儀器簡介
XRD的全稱是X-Ray Diffraction，即X射線衍射。這是一種通過對粉末、單晶或多晶體等塊體檢測材料等樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息，是目前研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)最有力的方法。
臺式多晶X射線衍射儀是探測晶體材料物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析儀器，可以對晶體材料物質(zhì)進(jìn)行包括定性定量功能在內(nèi)的多種分析應(yīng)用，是材料分析領(lǐng)域重要技術(shù)手段。臺式多晶X射線衍射儀在自然科學(xué)和技術(shù)科學(xué)中的應(yīng)用范圍遍及廣泛領(lǐng)域，在諸多以材料科學(xué)為基礎(chǔ)的眾多學(xué)科、工業(yè)行業(yè)中都有重要的應(yīng)用，是理工科院校和涉及材料研究、生產(chǎn)工藝部門、廠礦實(shí)驗(yàn)室的重要不可或缺的大型分析儀器設(shè)備。本產(chǎn)品利用X射線照射晶體物質(zhì)產(chǎn)生X射線衍射的原理，采用準(zhǔn)聚焦設(shè)計光路來實(shí)現(xiàn)對被照射樣品的衍射幀收集，進(jìn)而轉(zhuǎn)化成標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜做定性定量分析。
儀器特點(diǎn)
?
光子計數(shù)X射線探測器
面陣型光子計數(shù)半導(dǎo)體探測器??
高靈敏，可實(shí)現(xiàn)單光子計數(shù) ?
動態(tài)范圍大 ?
雙閾值
抗強(qiáng)輻射長時照射，長壽命
大角度弧形探測器
同時獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像，同時收集y角度信息
探測器至樣品距離：150mm
多片探測器全角度無縫覆蓋
固定測角儀系統(tǒng)??
同時獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像??
2D成像，同時收集y角度信息
支持多種數(shù)據(jù)采集模式
固定照相模式獲取2D衍射幀
快掃模式獲取1D衍射譜
型號參數(shù)
| 型 號 | BRAGG 110 | |
| X射線管 | 種類 | Cu靶(靶材可選)金屬陶瓷管 |
| 焦點(diǎn) | 1×10mm 點(diǎn)/線可互換 | |
| X射線發(fā)生器 | 最大輸出 | 600W |
| 管電壓 | 15～40kV，1kV/Step | |
| 管電流 | 5～15mA，1mA/Step | |
| 管電壓、管電流穩(wěn)定度 | ≤0.01％（電源低壓浮動10％） | |
| 測角儀 | 測角儀結(jié)構(gòu) | θ/2θ |
| 衍射光路幾何 | Bragg-Brentano / Debye-Scherrer 可切換 | |
| 測角儀半徑 | 150mm | |
| 掃描/照相角度范圍 | 0～90°（θ） ； -3～150°（2θ） | |
| 工作方式 | 單幀/多幀曝光 | |
| 2θ角重復(fù)精度 | ≤±0.001° | |
| 測量準(zhǔn)確度 | ±0.02° | |
| 探測器 | 類型 | 混合像素光子計數(shù)半導(dǎo)體探測器 |
| 像素尺寸 | 70×70μm2 | |
| 單片面積 | 20.1×20.1mm2 | |
| 噪聲 | ||
| 能量分辨率 | 1keV | |
| 數(shù)量 | BRAGG 110-11片 | |
| 最大線性計數(shù) | 2.6×106cps/pixel | |
| 機(jī)柜 | 機(jī)柜尺寸（mm） | （長）770×（寬）520×（高）800 |
| 整機(jī)重量（kg） | 135 | |
| 輻射劑量 | ≤0.2μSv/h（未扣除天然本底） | |
| 安全措施 | 門聯(lián)鎖保護(hù)/功率保護(hù)/過熱保護(hù) | |
| 濾波器 | Ni濾片 | 對應(yīng)Cu靶 |
| 綜合指標(biāo) | 整機(jī)綜合穩(wěn)定度 | ≤0.2％ |
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